关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Luqman H. · 评论over 1 year之前

Rinakshi P. · 评论over 1 year之前

Gastón C. · 评论over 1 year之前

sandeep kumar gupta G. · 评论over 1 year之前

BAHRUL H. · 评论over 1 year之前

Vikas S. · 评论over 1 year之前

Ashish S. · 评论over 1 year之前

Armin M. · 评论over 1 year之前

Bharath Kumar A. · 评论over 1 year之前

Pratik C. · 评论over 1 year之前

Bruno L. · 评论over 1 year之前

Arin C. · 评论over 1 year之前

Vaishnav G. · 评论over 1 year之前

Prabrisha S. · 评论over 1 year之前

Sneha J. · 评论over 1 year之前

Mayureshwar S. · 评论over 1 year之前

Sudip K. · 评论over 1 year之前

Boyinapalli Phani S. · 评论over 1 year之前

Srushti G. · 评论over 1 year之前

Prince K. · 评论over 1 year之前

Vrinda T. · 评论over 1 year之前

weg

Devashish S. · 评论over 1 year之前

NILOFAR j. · 评论over 1 year之前

Subransu Sekhar M. · 评论over 1 year之前

Soumitra G. · 评论over 1 year之前