关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Shreya K. · 评论over 1 year之前

bubg p. · 评论over 1 year之前

Utkarsh M. · 评论over 1 year之前

Kirandeep K. · 评论over 1 year之前

Adi B. · 评论over 1 year之前

Pranav Z. · 评论over 1 year之前

good

Anil K. · 评论over 1 year之前

Durga Prasad E. · 评论over 1 year之前

Ashutosh P. · 评论over 1 year之前

Amanpreet kaur B. · 评论over 1 year之前

MD KAIF A. · 评论over 1 year之前

K K. · 评论over 1 year之前

tushar c. · 评论over 1 year之前

Soham R. · 评论over 1 year之前

Udita R. · 评论over 1 year之前

Jay S. · 评论over 1 year之前

APEKSHA U. · 评论over 1 year之前

Ashutosh G. · 评论over 1 year之前

Ashutosh G. · 评论over 1 year之前

Pasam T. · 评论over 1 year之前

Ashutosh K. · 评论over 1 year之前

great

Sumanth J. · 评论over 1 year之前

Achint T. · 评论over 1 year之前

Twinkle S. · 评论over 1 year之前

Nageshwar Prashad P. · 评论over 1 year之前