关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Ashutosh P. · 评论over 1 year之前

D J. · 评论over 1 year之前

Arnima G. · 评论over 1 year之前

shreya P. · 评论over 1 year之前

Tasmiya S. · 评论over 1 year之前

Pournima C. · 评论over 1 year之前

Rehan K. · 评论over 1 year之前

Maharaja P. · 评论over 1 year之前

Anshika S. · 评论over 1 year之前

Prateek B. · 评论over 1 year之前

Abhishek S. · 评论over 1 year之前

Soumen B. · 评论over 1 year之前

Adi N. · 评论over 1 year之前

Vinayak G. · 评论over 1 year之前

Harsh K. · 评论over 1 year之前

Bhandit t. · 评论over 1 year之前

Firoj S. · 评论over 1 year之前

Ashutosh W. · 评论over 1 year之前

Sri Sai Sateesh Chandra R. · 评论over 1 year之前

Gidion F. · 评论over 1 year之前

Yash B. · 评论over 1 year之前

Amit K. · 评论over 1 year之前

Ankur Y. · 评论over 1 year之前

Sontineni Harsha V. · 评论over 1 year之前

Sri Sai Sateesh Chandra R. · 评论over 1 year之前