关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Pragati D. · 评论over 1 year之前

Ankita L. · 评论over 1 year之前

Adil k. · 评论over 1 year之前

Cool

Sanket G. · 评论over 1 year之前

Nur R. · 评论over 1 year之前

Ajay B. · 评论over 1 year之前

Prathamesh F. · 评论over 1 year之前

RF Technologies G. · 评论over 1 year之前

good lab

A-Nikhil K. · 评论over 1 year之前

Yash K. · 评论over 1 year之前

Lokesh B. · 评论over 1 year之前

Bhavyata T. · 评论over 1 year之前

nice

Divyansh p. · 评论over 1 year之前

Nice

Ankit B. · 评论over 1 year之前

Tagore A. · 评论over 1 year之前

good lab

Aadarsh s. · 评论over 1 year之前

Chandan S. · 评论over 1 year之前

Nikita J. · 评论over 1 year之前

Vivek D. · 评论over 1 year之前

Vaibhav J. · 评论over 1 year之前

Azlan K. · 评论over 1 year之前

Sachin V. · 评论over 1 year之前

Tech M. · 评论over 1 year之前

Priyanshu G. · 评论over 1 year之前

Arya R. · 评论over 1 year之前