关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Malvika V. · 评论over 1 year之前

Nikita W. · 评论over 1 year之前

Omkar H. · 评论over 1 year之前

Nawadha J. · 评论over 1 year之前

Emu A. · 评论over 1 year之前

Roy L. · 评论over 1 year之前

Vikram K. · 评论over 1 year之前

Good

Shiv narayan K. · 评论over 1 year之前

AYATULLAH D. · 评论over 1 year之前

Rohit M. · 评论over 1 year之前

AYATULLAH D. · 评论over 1 year之前

Vishal P. · 评论over 1 year之前

SATYA V. · 评论over 1 year之前

Paras G. · 评论over 1 year之前

Manfred J. · 评论over 1 year之前

Karan M. · 评论over 1 year之前

Onkar F. · 评论over 1 year之前

Arcade F. · 评论over 1 year之前

Mangesh C. · 评论over 1 year之前

Souradeep M. · 评论over 1 year之前

Jagruti D. · 评论over 1 year之前

vishal kumar Y. · 评论over 1 year之前

Sanika J. · 评论over 1 year之前

ashwita r. · 评论over 1 year之前

Aswini R. · 评论over 1 year之前