关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Agus Deni P. · 评论over 1 year之前

Aqsho Z. · 评论over 1 year之前

Yash K. · 评论over 1 year之前

Aman P. · 评论over 1 year之前

adarsh k. · 评论over 1 year之前

SUMIT M. · 评论over 1 year之前

Mona G. · 评论over 1 year之前

Yash H. · 评论over 1 year之前

Striver D. · 评论over 1 year之前

mahi r. · 评论over 1 year之前

nice lab

CloudOps g. · 评论over 1 year之前

renu n. · 评论over 1 year之前

renu n. · 评论over 1 year之前

Himesh p. · 评论over 1 year之前

Shivangi S. · 评论over 1 year之前

Poonam S. · 评论over 1 year之前

Husen S. · 评论over 1 year之前

Sumit P. · 评论over 1 year之前

Aman U. · 评论over 1 year之前

Sarthak B. · 评论over 1 year之前

Dilshad A. · 评论over 1 year之前

Aryan B. · 评论over 1 year之前

good

naman G. · 评论over 1 year之前

Parth S. · 评论over 1 year之前

Kurokami H. · 评论over 1 year之前