关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

评论

good lab

Sakshi Y. · 评论over 1 year之前

Pikai M. · 评论over 1 year之前

Krishna T. · 评论over 1 year之前

Masito a. · 评论over 1 year之前

Nikesh B. · 评论over 1 year之前

shrawani A. · 评论over 1 year之前

Sidharth P. · 评论over 1 year之前

Ronanki R. · 评论over 1 year之前

Radhika S. · 评论over 1 year之前

Sanika Z. · 评论over 1 year之前

Syed md F. · 评论over 1 year之前

Meghana M. · 评论over 1 year之前

Very Satisfied

Yash K. · 评论over 1 year之前

Chaithhanya Sai K. · 评论over 1 year之前

Yash C. · 评论over 1 year之前

Bhavya U. · 评论over 1 year之前

good

Sharmila N. · 评论over 1 year之前

Debalina G. · 评论over 1 year之前

ANCHIT M. · 评论over 1 year之前

Prateek C. · 评论over 1 year之前

Shruti J. · 评论over 1 year之前

nice

Manali T. · 评论over 1 year之前

Farah R. · 评论over 1 year之前

IOT_04_Anurag Kumar Singh G. · 评论over 1 year之前

Pranjal M. · 评论over 1 year之前

我们无法确保发布的评价来自已购买或已使用产品的消费者。评价未经 Google 核实。