关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价
评论
good lab
Sakshi Y. · 评论over 1 year之前
Pikai M. · 评论over 1 year之前
Krishna T. · 评论over 1 year之前
Masito a. · 评论over 1 year之前
Nikesh B. · 评论over 1 year之前
shrawani A. · 评论over 1 year之前
Sidharth P. · 评论over 1 year之前
Ronanki R. · 评论over 1 year之前
Radhika S. · 评论over 1 year之前
Sanika Z. · 评论over 1 year之前
Syed md F. · 评论over 1 year之前
Meghana M. · 评论over 1 year之前
Very Satisfied
Yash K. · 评论over 1 year之前
Chaithhanya Sai K. · 评论over 1 year之前
Yash C. · 评论over 1 year之前
Bhavya U. · 评论over 1 year之前
good
Sharmila N. · 评论over 1 year之前
Debalina G. · 评论over 1 year之前
ANCHIT M. · 评论over 1 year之前
Prateek C. · 评论over 1 year之前
Shruti J. · 评论over 1 year之前
nice
Manali T. · 评论over 1 year之前
Farah R. · 评论over 1 year之前
IOT_04_Anurag Kumar Singh G. · 评论over 1 year之前
Pranjal M. · 评论over 1 year之前
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