关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Mohamed A. · 评论over 1 year之前

Shilpi S. · 评论over 1 year之前

Jalatarapu A. · 评论over 1 year之前

Swetha M. · 评论over 1 year之前

Shabd B. · 评论over 1 year之前

SHAHAB K. · 评论over 1 year之前

Manjunath H. · 评论over 1 year之前

Hashim E. · 评论over 1 year之前

Harshit G. · 评论over 1 year之前

Rahul S. · 评论over 1 year之前

Dhananjay M. · 评论over 1 year之前

Good

Satyam J. · 评论over 1 year之前

Arun T. · 评论over 1 year之前

Etherman N. · 评论over 1 year之前

nice

Eka W. · 评论over 1 year之前

Dany K. · 评论over 1 year之前

Jui P. · 评论over 1 year之前

OMKARA ANJANEYA KUMAR R. · 评论over 1 year之前

Saniya I. · 评论over 1 year之前

nice

Arch N. · 评论over 1 year之前

Tapasya B. · 评论over 1 year之前

good lab

Saurabh K. · 评论over 1 year之前

Rozin A. · 评论over 1 year之前

MURARI K. · 评论over 1 year之前

Siddharth mohapatra G. · 评论over 1 year之前