关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Pratik M. · 评论over 1 year之前

nice

Aditya Mohan S. · 评论over 1 year之前

Suneel P. · 评论over 1 year之前

Chandan C. · 评论over 1 year之前

Abhijeet M. · 评论over 1 year之前

Robin D. · 评论over 1 year之前

R K. · 评论over 1 year之前

KINJAL K. · 评论over 1 year之前

Jayesh P. · 评论over 1 year之前

Riki W. · 评论over 1 year之前

Shubham B. · 评论over 1 year之前

Riki W. · 评论over 1 year之前

Subhrajyoti P. · 评论over 1 year之前

Muhammad Yusuf R. · 评论over 1 year之前

Seershika B. · 评论over 1 year之前

Great

Dwi Putri A S. · 评论over 1 year之前

Akash M. · 评论over 1 year之前

Akash S. · 评论over 1 year之前

Maila F. · 评论over 1 year之前

Vinay J. · 评论over 1 year之前

14_P. M.Rajkumar R. · 评论over 1 year之前

Sougata S. · 评论over 1 year之前

Chayan S. · 评论over 1 year之前

Phantom B. · 评论over 1 year之前

Nichol N. · 评论over 1 year之前