关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Wei Loon T. · 评论over 1 year之前

Adarsh K. · 评论over 1 year之前

JAVVAJI B. · 评论over 1 year之前

Akash P. · 评论over 1 year之前

Honey S. · 评论over 1 year之前

Krishi S. · 评论over 1 year之前

Sakshi P. · 评论over 1 year之前

Soyamprangya R. · 评论over 1 year之前

Yash Raj S. · 评论over 1 year之前

gud

Rishabh R. · 评论over 1 year之前

Eko Budiono W. · 评论over 1 year之前

MOHAMMAD MIRAN K. · 评论over 1 year之前

Divya S. · 评论over 1 year之前

Taufik H. · 评论over 1 year之前

Aakash C. · 评论over 1 year之前

Ko Y. · 评论over 1 year之前

Mayur C. · 评论over 1 year之前

Vasu R. · 评论over 1 year之前

Luqman H. · 评论over 1 year之前

Maulid C. · 评论over 1 year之前

Good Lab

Paulo Roberto C. · 评论over 1 year之前

Akkiy C. · 评论over 1 year之前

GOOD

Avinash K. · 评论over 1 year之前

Jeffri J. · 评论over 1 year之前

Sumiran G. · 评论over 1 year之前