关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

John K. · 评论over 1 year之前

Debjit B. · 评论over 1 year之前

Agniva S. · 评论over 1 year之前

Sam L. · 评论over 1 year之前

Han L. · 评论over 1 year之前

Rajnandini S. · 评论over 1 year之前

Appu S. · 评论over 1 year之前

Sai krishna V. · 评论over 1 year之前

Yash T. · 评论over 1 year之前

Samiran M. · 评论over 1 year之前

Disha Y. · 评论over 1 year之前

Bit B. · 评论over 1 year之前

Vanshika F. · 评论over 1 year之前

DHUPAL CHANDRA D. · 评论over 1 year之前

vamshikrishna g. · 评论over 1 year之前

Deep D. · 评论over 1 year之前

Deep D. · 评论over 1 year之前

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Yogesh R. · 评论over 1 year之前

Adam M. · 评论over 1 year之前

Hemanth R. · 评论over 1 year之前

Vivank J. · 评论over 1 year之前

Ishwari s. · 评论over 1 year之前

Jay M. · 评论over 1 year之前

Zabee A. · 评论over 1 year之前

Priyanka D. · 评论over 1 year之前