关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Umang U. · 评论over 1 year之前

CHENNUPATI DHEERAJ KARTHIKEYA 2. · 评论over 1 year之前

Soumyadeepta M. · 评论over 1 year之前

Subhadeep R. · 评论over 1 year之前

Aditya S. · 评论over 1 year之前

Meetrajsinh P. · 评论over 1 year之前

Suvarna G. · 评论over 1 year之前

Abhinay P. · 评论over 1 year之前

Nilankan P. · 评论over 1 year之前

Jitendra P. · 评论over 1 year之前

Anurag N. · 评论over 1 year之前

Saniya G. · 评论over 1 year之前

Moch Aril I. · 评论over 1 year之前

Random S. · 评论over 1 year之前

nikhitha a. · 评论over 1 year之前

kadiyala p. · 评论over 1 year之前

om s. · 评论over 1 year之前

Punit S. · 评论over 1 year之前

Bundele D. · 评论over 1 year之前

Saurav K. · 评论over 1 year之前

Deepak K. · 评论over 1 year之前

Sonali S. · 评论over 1 year之前

Naufal M. · 评论over 1 year之前

Muskan M. · 评论over 1 year之前

Mohit A. · 评论over 1 year之前