关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

belliny K. · 评论over 1 year之前

JaeHyun Y. · 评论over 1 year之前

Lloyd W. · 评论over 1 year之前

Arpit S. · 评论over 1 year之前

Duseok R. · 评论over 1 year之前

joonha L. · 评论over 1 year之前

JaeHoon L. · 评论over 1 year之前

Andrii B. · 评论over 1 year之前

Eugene Minwhoan K. · 评论over 1 year之前

good lab

Ruddraksh P. · 评论over 1 year之前

good

Lina L. · 评论over 1 year之前

영찬 김. · 评论over 1 year之前

Charan K. · 评论over 1 year之前

유리 홍. · 评论over 1 year之前

Aditya P. · 评论over 1 year之前

Kaizin P. · 评论over 1 year之前

Great!

Chaitanya D. · 评论over 1 year之前

Sagar M. · 评论over 1 year之前

Purva s. · 评论over 1 year之前

David W. · 评论over 1 year之前

희태 최. · 评论over 1 year之前

SangKug C. · 评论over 1 year之前

손 경. · 评论over 1 year之前

Sana M. · 评论over 1 year之前

Samuel C. · 评论over 1 year之前