关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Byeonghyeon P. · 评论over 1 year之前

Byeonghyeon P. · 评论over 1 year之前

Roshan V. · 评论over 1 year之前

Vishal P. · 评论over 1 year之前

기원 이. · 评论over 1 year之前

Vitalii B. · 评论over 1 year之前

재민 현. · 评论over 1 year之前

Wonjin S. · 评论over 1 year之前

상재 변. · 评论over 1 year之前

Gustavo Kazuiti M. · 评论over 1 year之前

DevLuce 최. · 评论over 1 year之前

nice

Krushna chandra B. · 评论over 1 year之前

인철 조. · 评论over 1 year之前

analytics d. · 评论over 1 year之前

Rajesh K. · 评论over 1 year之前

Haifa A. · 评论over 1 year之前

Varun S. · 评论over 1 year之前

승준 백. · 评论over 1 year之前

Gokul M. · 评论over 1 year之前

Deepanshu T. · 评论over 1 year之前

Gokul M. · 评论over 1 year之前

Gi Mun L. · 评论over 1 year之前

Minjae G. · 评论over 1 year之前

Ripan G. · 评论over 1 year之前

주호 이. · 评论over 1 year之前