关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Siraz S. · 评论over 1 year之前

Hemang P. · 评论over 1 year之前

Jinbeom K. · 评论over 1 year之前

Rahmad F. · 评论over 1 year之前

아영 김. · 评论over 1 year之前

Vijay G. · 评论over 1 year之前

SUN J. · 评论over 1 year之前

Kaushik D. · 评论over 1 year之前

stats G. · 评论over 1 year之前

Kaushik D. · 评论over 1 year之前

VISAL T. · 评论over 1 year之前

Kaushik D. · 评论over 1 year之前

Kaushik D. · 评论over 1 year之前

상필 박. · 评论over 1 year之前

Kaushik D. · 评论over 1 year之前

Kaushik D. · 评论over 1 year之前

AYUSH KUMAR S. · 评论over 1 year之前

Ujjwal K. · 评论over 1 year之前

Lee Y. · 评论over 1 year之前

Srijan M. · 评论over 1 year之前

Srijan M. · 评论over 1 year之前

Jayant V. · 评论over 1 year之前

Abhishek G. · 评论over 1 year之前

Srijan M. · 评论over 1 year之前

Dhanush R. · 评论over 1 year之前