关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Jessica P. · 评论over 1 year之前

Vaishnavi R. · 评论over 1 year之前

Ovo O. · 评论over 1 year之前

Rajeev S. · 评论over 1 year之前

Meetkumar V. · 评论over 1 year之前

Uttam Kumar S. · 评论over 1 year之前

Sanskar S. · 评论over 1 year之前

Harshad S. · 评论over 1 year之前

Jivan K. · 评论over 1 year之前

DIGANTIKA S. · 评论over 1 year之前

Kashish P. · 评论over 1 year之前

耕平 石. · 评论over 1 year之前

Lakshmi Narayana V. · 评论over 1 year之前

Sujal M. · 评论over 1 year之前

Debayan K. · 评论over 1 year之前

Sougata P. · 评论over 1 year之前

Mohammed E. · 评论over 1 year之前

Víctor R. · 评论over 1 year之前

Ren Jacob C. · 评论over 1 year之前

Srijib D. · 评论over 1 year之前

Zivile L. · 评论over 1 year之前

Ray G. · 评论over 1 year之前

PINAKI S. · 评论over 1 year之前

Good

N.Praneeth G. · 评论over 1 year之前

PHANI G. · 评论over 1 year之前