关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Good.

Ruargh S. · 评论about 1 year之前

Akash C. · 评论about 1 year之前

Abhishek M. · 评论about 1 year之前

Renish A. · 评论about 1 year之前

JAIKEY S. · 评论about 1 year之前

Francisco Jose G. · 评论about 1 year之前

good lab

Ayushman N. · 评论about 1 year之前

Munyim H. · 评论about 1 year之前

Anjanamol R. · 评论about 1 year之前

Kritansh T. · 评论over 1 year之前

Terence S. · 评论over 1 year之前

Piotr B. · 评论over 1 year之前

Piotr B. · 评论over 1 year之前

Matin N. · 评论over 1 year之前

Ritu R. · 评论over 1 year之前

DEVU V. · 评论over 1 year之前

Arji B. · 评论over 1 year之前

敬源 黃. · 评论over 1 year之前

Rose C. · 评论over 1 year之前

Abhishek S. · 评论over 1 year之前

Saurabh Kumar S. · 评论over 1 year之前

Amit D. · 评论over 1 year之前

Deepnita M. · 评论over 1 year之前

Vivek I. · 评论over 1 year之前

Samuel C. · 评论over 1 year之前