关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Efan W. · 已于 over 1 year前审核

Asit M. · 已于 over 1 year前审核

Jaya P. · 已于 over 1 year前审核

Sayaan F. · 已于 over 1 year前审核

Syed Akkeal Juniath S. · 已于 over 1 year前审核

Sri W. · 已于 over 1 year前审核

Sainath B. · 已于 over 1 year前审核

Vrinda T. · 已于 over 1 year前审核

Bagus A. · 已于 over 1 year前审核

achref a. · 已于 over 1 year前审核

Aysyah Noor S. · 已于 over 1 year前审核

Kuroko s. · 已于 over 1 year前审核

Lalit S. · 已于 over 1 year前审核

Atul P. · 已于 over 1 year前审核

Jainam J. · 已于 over 1 year前审核

Manogari S. · 已于 over 1 year前审核

Tanush A. · 已于 over 1 year前审核

5

Anish K. · 已于 over 1 year前审核

PADALA A. · 已于 over 1 year前审核

Soumitra G. · 已于 over 1 year前审核

Snehasis K. · 已于 over 1 year前审核

Preet K. · 已于 over 1 year前审核

Kaushik T. · 已于 over 1 year前审核

Vinayak Kumar S. · 已于 over 1 year前审核

Rehan K. · 已于 over 1 year前审核