关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Luqman H. · 已于 over 1 year前审核

Rinakshi P. · 已于 over 1 year前审核

Gastón C. · 已于 over 1 year前审核

sandeep kumar gupta G. · 已于 over 1 year前审核

BAHRUL H. · 已于 over 1 year前审核

Vikas S. · 已于 over 1 year前审核

Ashish S. · 已于 over 1 year前审核

Armin M. · 已于 over 1 year前审核

Bharath Kumar A. · 已于 over 1 year前审核

Pratik C. · 已于 over 1 year前审核

Bruno L. · 已于 over 1 year前审核

Arin C. · 已于 over 1 year前审核

Vaishnav G. · 已于 over 1 year前审核

Prabrisha S. · 已于 over 1 year前审核

Sneha J. · 已于 over 1 year前审核

Mayureshwar S. · 已于 over 1 year前审核

Sudip K. · 已于 over 1 year前审核

Boyinapalli Phani S. · 已于 over 1 year前审核

Srushti G. · 已于 over 1 year前审核

Prince K. · 已于 over 1 year前审核

Vrinda T. · 已于 over 1 year前审核

weg

Devashish S. · 已于 over 1 year前审核

NILOFAR j. · 已于 over 1 year前审核

Subransu Sekhar M. · 已于 over 1 year前审核

Soumitra G. · 已于 over 1 year前审核