关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

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Riya G. · 已于 over 1 year前审核

Divya B. · 已于 over 1 year前审核

Aditya J. · 已于 over 1 year前审核

Sangamesh B. · 已于 over 1 year前审核

Lipsikha P. · 已于 over 1 year前审核

Varun T. · 已于 over 1 year前审核

Kasanagottu H. · 已于 over 1 year前审核

Srinanda C S G. · 已于 over 1 year前审核

Khushi G. · 已于 over 1 year前审核

Darma w. · 已于 over 1 year前审核

Somya R. · 已于 over 1 year前审核

Febry A. · 已于 over 1 year前审核

sara p. · 已于 over 1 year前审核

Vijender K. · 已于 over 1 year前审核

Vijender K. · 已于 over 1 year前审核

Multi B. S. · 已于 over 1 year前审核

Shreyash V. · 已于 over 1 year前审核

Saniya B. · 已于 over 1 year前审核

Manas Vikas R. · 已于 over 1 year前审核

Taufan E. · 已于 over 1 year前审核

RULLI DAMARA P. · 已于 over 1 year前审核

Anu . · 已于 over 1 year前审核

Muvvala K. · 已于 over 1 year前审核

Violina M. · 已于 over 1 year前审核

shine j. · 已于 over 1 year前审核