关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

RAMU K. · 已于 over 1 year前审核

Mau S. · 已于 over 1 year前审核

Avdhoot K. · 已于 over 1 year前审核

Prabhat K. · 已于 over 1 year前审核

Pratik Guha G. · 已于 over 1 year前审核

Raghav A. · 已于 over 1 year前审核

Smita S. · 已于 over 1 year前审核

Neha P. · 已于 over 1 year前审核

Sahithi 2. · 已于 over 1 year前审核

Ayuj M. · 已于 over 1 year前审核

Aniket D. · 已于 over 1 year前审核

good

Himakar S. · 已于 over 1 year前审核

ismail z. · 已于 over 1 year前审核

Mayank D. · 已于 over 1 year前审核

Vaishnavi C. · 已于 over 1 year前审核

Debasish P. · 已于 over 1 year前审核

good lab

Amrit p. · 已于 over 1 year前审核

Good Lab

Om H. · 已于 over 1 year前审核

Abhijeet S. · 已于 over 1 year前审核

gajender s. · 已于 over 1 year前审核

Siti S. · 已于 over 1 year前审核

Ritik O. · 已于 over 1 year前审核

VIKAS G. · 已于 over 1 year前审核

Good Lab

Saatvik Shashank S. · 已于 over 1 year前审核

FALTU T. · 已于 over 1 year前审核