关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Bharath S. · 已于 over 1 year前审核

Divyesh N. · 已于 over 1 year前审核

Atharva K. · 已于 over 1 year前审核

Shekhar K. · 已于 over 1 year前审核

Archana K. · 已于 over 1 year前审核

Akshat V. · 已于 over 1 year前审核

Akshay ln s. · 已于 over 1 year前审核

Akshay ln s. · 已于 over 1 year前审核

Alfaiz S. · 已于 over 1 year前审核

Prathmesh A. · 已于 over 1 year前审核

Shaikh A. · 已于 over 1 year前审核

Rajesh M. · 已于 over 1 year前审核

Shahnawaz A. · 已于 over 1 year前审核

Harshit G. · 已于 over 1 year前审核

Aryan G. · 已于 over 1 year前审核

Pratham T. · 已于 over 1 year前审核

Anand B. · 已于 over 1 year前审核

Alfaiz S. · 已于 over 1 year前审核

Good lab

SIDDHARTH P. · 已于 over 1 year前审核

K P M. · 已于 over 1 year前审核

Harsh S. · 已于 over 1 year前审核

Good

madhukar e. · 已于 over 1 year前审核

Annapurna S. · 已于 over 1 year前审核

Ganesh B. · 已于 over 1 year前审核

Avdhoot K. · 已于 over 1 year前审核