关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

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Daemon T. · 已于 over 1 year前审核

Saurabh A. · 已于 over 1 year前审核

Nikesh S. · 已于 over 1 year前审核

GOOD

Jinka C. · 已于 over 1 year前审核

renu n. · 已于 over 1 year前审核

Anamika G. · 已于 over 1 year前审核

Vanaja Shilpa R. · 已于 over 1 year前审核

Erwin E. · 已于 over 1 year前审核

Areeb P. · 已于 over 1 year前审核

R N. · 已于 over 1 year前审核

Anshika G. · 已于 over 1 year前审核

vaibhav n. · 已于 over 1 year前审核

Musa S. · 已于 over 1 year前审核

Mr. Nasamajh E. · 已于 over 1 year前审核

Neha P. · 已于 over 1 year前审核

itz_ l. · 已于 over 1 year前审核

Yash G. · 已于 over 1 year前审核

Aman K. · 已于 over 1 year前审核

Sai Z. · 已于 over 1 year前审核

Sai Kiran P. · 已于 over 1 year前审核

Aman Kumar J. · 已于 over 1 year前审核

Gourav G. · 已于 over 1 year前审核

Manav R. · 已于 over 1 year前审核

Matin I. · 已于 over 1 year前审核

Heramb C. · 已于 over 1 year前审核