关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Mahesh R. · 已于 over 1 year前审核

Mir Nayeem U. · 已于 over 1 year前审核

Nirmit B. · 已于 over 1 year前审核

Pasupuleti N. · 已于 over 1 year前审核

good lab

Kalyani S. · 已于 over 1 year前审核

Navneeth K. · 已于 over 1 year前审核

Sainandan B. · 已于 over 1 year前审核

Doraemon N. · 已于 over 1 year前审核

Megh D. · 已于 over 1 year前审核

Sadhya G. · 已于 over 1 year前审核

B U. · 已于 over 1 year前审核

Paras J. · 已于 over 1 year前审核

Sheikh A. · 已于 over 1 year前审核

umar k. · 已于 over 1 year前审核

Chetan B. · 已于 over 1 year前审核

Prashant P. · 已于 over 1 year前审核

Ritik k. · 已于 over 1 year前审核

Janvi C. · 已于 over 1 year前审核

anusri t. · 已于 over 1 year前审核

Abhishek S. · 已于 over 1 year前审核

Rakshit S. · 已于 over 1 year前审核

Abhishek M. · 已于 over 1 year前审核

AJAY B. · 已于 over 1 year前审核

Ajay k. · 已于 over 1 year前审核

Som P. · 已于 over 1 year前审核