关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Agastya B. · 已于 over 1 year前审核

Piyush R. · 已于 over 1 year前审核

Aditya K. · 已于 over 1 year前审核

general l. · 已于 over 1 year前审核

Soumya S. · 已于 over 1 year前审核

Prajjal B. · 已于 over 1 year前审核

Oksana S. · 已于 over 1 year前审核

Venkatesh V. · 已于 over 1 year前审核

Ievgen V. · 已于 over 1 year前审核

Good Lab

Nitish Kumar M G. · 已于 over 1 year前审核

Mahak S. · 已于 over 1 year前审核

Sanvi S. · 已于 over 1 year前审核

Awesome.

RUDRAPRATAP P. · 已于 over 1 year前审核

Ritu G. · 已于 over 1 year前审核

Ankit kumar Tripathy G. · 已于 over 1 year前审核

KIRAN P. · 已于 over 1 year前审核

Adarsh S. · 已于 over 1 year前审核

Priyanshu J. · 已于 over 1 year前审核

Shobhit K. · 已于 over 1 year前审核

ritika g. · 已于 over 1 year前审核

Venkata Phanisai J. · 已于 over 1 year前审核

Tanmay S. · 已于 over 1 year前审核

Eugen V. · 已于 over 1 year前审核

Vishal G. · 已于 over 1 year前审核

Nandini K. · 已于 over 1 year前审核