关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Kavya J. · 已于 over 1 year前审核

Kantilal T. · 已于 over 1 year前审核

Shivamdeep G. · 已于 over 1 year前审核

Aakash C. · 已于 over 1 year前审核

palak G. · 已于 over 1 year前审核

ig:riyawho 4. · 已于 over 1 year前审核

weiming H. · 已于 over 1 year前审核

Vijai U. · 已于 over 1 year前审核

Niharika N. · 已于 over 1 year前审核

nice

Rohit B. · 已于 over 1 year前审核

Pavan s. · 已于 over 1 year前审核

Bisweswari P. · 已于 over 1 year前审核

Srishti M. · 已于 over 1 year前审核

Yash P. · 已于 over 1 year前审核

Majid H. · 已于 over 1 year前审核

Shubham K. · 已于 over 1 year前审核

Kshitij A. · 已于 over 1 year前审核

Devilia D. · 已于 over 1 year前审核

Aryan S. · 已于 over 1 year前审核

sakshi p. · 已于 over 1 year前审核

Devansh M. · 已于 over 1 year前审核

good

Garima S. · 已于 over 1 year前审核

1214_Geetika G. · 已于 over 1 year前审核

Shikha T. · 已于 over 1 year前审核

Aryan G. · 已于 over 1 year前审核