关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Aditya P. · 已于 over 1 year前审核

Mandira H. · 已于 over 1 year前审核

anushka s. · 已于 over 1 year前审核

Meet P. · 已于 over 1 year前审核

Dinur S. · 已于 over 1 year前审核

Xerox G. · 已于 over 1 year前审核

Pradip B. · 已于 over 1 year前审核

Shubham B. · 已于 over 1 year前审核

Good Lab

Tanishq S. · 已于 over 1 year前审核

Syed M. · 已于 over 1 year前审核

Harsha T. · 已于 over 1 year前审核

Aman K. · 已于 over 1 year前审核

Sai Rohith M. · 已于 over 1 year前审核

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Dhanashree L. · 已于 over 1 year前审核

Van Khanh N. · 已于 over 1 year前审核

Mahesh K. · 已于 over 1 year前审核

Mahesh Kumar P. · 已于 over 1 year前审核

mahesh kumar p. · 已于 over 1 year前审核

Mohitsing Sanjaysing P. · 已于 over 1 year前审核

Siddharth J. · 已于 over 1 year前审核

SATHI G. · 已于 over 1 year前审核

Mujeeb N. · 已于 over 1 year前审核

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Dhanashree L. · 已于 over 1 year前审核

Prashant_ C. · 已于 over 1 year前审核

Himanshu K. · 已于 over 1 year前审核