关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Palash D. · 已于 over 1 year前审核

Shreya U. · 已于 over 1 year前审核

Asim K. · 已于 over 1 year前审核

Good

simasbro m. · 已于 over 1 year前审核

Ani O. · 已于 over 1 year前审核

Aninda O. · 已于 over 1 year前审核

siddhi h. · 已于 over 1 year前审核

Monish K. · 已于 over 1 year前审核

Amishaben R. · 已于 over 1 year前审核

Bhavika P. · 已于 over 1 year前审核

Vedant P. · 已于 over 1 year前审核

Eshwar J. · 已于 over 1 year前审核

Good Lab

Ritik V. · 已于 over 1 year前审核

Shreya P. · 已于 over 1 year前审核

Khushi J. · 已于 over 1 year前审核

Pranjal Shiv G. · 已于 over 1 year前审核

good lab

Krupesh P. · 已于 over 1 year前审核

aditya p. · 已于 over 1 year前审核

Sourav C. · 已于 over 1 year前审核

Reinold G. · 已于 over 1 year前审核

Muhamad A. · 已于 over 1 year前审核

Novan N. · 已于 over 1 year前审核

SHIVAM K. · 已于 over 1 year前审核

ankita j. · 已于 over 1 year前审核

Arbaaz S. · 已于 over 1 year前审核