关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Mrunmai K. · 已于 over 1 year前审核

Deep J. · 已于 over 1 year前审核

Prathmesh B. · 已于 over 1 year前审核

Yashraj S. · 已于 over 1 year前审核

Sanradhya B. · 已于 over 1 year前审核

Bhavya M. · 已于 over 1 year前审核

Santanu K. · 已于 over 1 year前审核

Sakshi V. · 已于 over 1 year前审核

Silver G. · 已于 over 1 year前审核

Jayant V. · 已于 over 1 year前审核

All Good

Veera Venkata Sai Ram S. · 已于 over 1 year前审核

Shahnaz S. · 已于 over 1 year前审核

Jainam S. · 已于 over 1 year前审核

Vasantha K. · 已于 over 1 year前审核

Vaishnavi M. · 已于 over 1 year前审核

Naveen k. · 已于 over 1 year前审核

Aritra G. · 已于 over 1 year前审核

V R Krishnamacharyulu P. · 已于 over 1 year前审核

Jaswanth kiran G. · 已于 over 1 year前审核

very good

Rohit M. · 已于 over 1 year前审核

Rakesh D. · 已于 over 1 year前审核

Deep G. · 已于 over 1 year前审核

Muhammad Akmal N. · 已于 over 1 year前审核

Palash D. · 已于 over 1 year前审核

Tirtha H. · 已于 over 1 year前审核