关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

RITHIKA M. · 已于 over 1 year前审核

Mohit J. · 已于 over 1 year前审核

Krishna K. · 已于 over 1 year前审核

Soham S. · 已于 over 1 year前审核

good lab

Jyothika S. · 已于 over 1 year前审核

Himanshu K. · 已于 over 1 year前审核

MOHD NEHAL K. · 已于 over 1 year前审核

broken s. · 已于 over 1 year前审核

Aryan T. · 已于 over 1 year前审核

Shanu N. · 已于 over 1 year前审核

Avirup B. · 已于 over 1 year前审核

mahendargdc21 G. · 已于 over 1 year前审核

Mehul S. · 已于 over 1 year前审核

Shreeya D. · 已于 over 1 year前审核

Komal K. · 已于 over 1 year前审核

Shubhendu M. · 已于 over 1 year前审核

Rushikesh R. · 已于 over 1 year前审核

Rishi kumar C. · 已于 over 1 year前审核

Abhishek R. · 已于 over 1 year前审核

Monalisha P. · 已于 over 1 year前审核

Alok C. · 已于 over 1 year前审核

Prakash B. · 已于 over 1 year前审核

TATTVAM KAJAVADARA G. · 已于 over 1 year前审核

DHAYANAND k. · 已于 over 1 year前审核

Sahil V. · 已于 over 1 year前审核