关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

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Prakhar G. · 已于 over 1 year前审核

Kanishka G. · 已于 over 1 year前审核

Subratkumar m. · 已于 over 1 year前审核

Anmol G. · 已于 over 1 year前审核

Asad J. · 已于 over 1 year前审核

Kris H. · 已于 over 1 year前审核

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Manish K. · 已于 over 1 year前审核

TEJASWI K. · 已于 over 1 year前审核

Ganesh L. · 已于 over 1 year前审核

A A. · 已于 over 1 year前审核

Sudip C. · 已于 over 1 year前审核

Prameela A. · 已于 over 1 year前审核

329_SUDIP C. · 已于 over 1 year前审核

prabhat s. · 已于 over 1 year前审核

Harsh J. · 已于 over 1 year前审核

Sudip C. · 已于 over 1 year前审核

Sayandip D. · 已于 over 1 year前审核

nice

Khushi S. · 已于 over 1 year前审核

piyush t. · 已于 over 1 year前审核

akash p. · 已于 over 1 year前审核

Abhinav A. · 已于 over 1 year前审核

Vaishnavi B. · 已于 over 1 year前审核

PURNANK J. · 已于 over 1 year前审核

Varun G. · 已于 over 1 year前审核

PRATHAMESH W. · 已于 over 1 year前审核