关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

good

Vraj S. · 已于 over 1 year前审核

Nice

Jagdish K. · 已于 over 1 year前审核

Samarth T. · 已于 over 1 year前审核

Kaushal K. · 已于 over 1 year前审核

Nagarajan R. · 已于 over 1 year前审核

divyesh p. · 已于 over 1 year前审核

Utsav B. · 已于 over 1 year前审核

Thokada S. · 已于 over 1 year前审核

Akshat K. · 已于 over 1 year前审核

Satyam P. · 已于 over 1 year前审核

Tushar M. · 已于 over 1 year前审核

Meghashyam R. · 已于 over 1 year前审核

PULIPATI S. · 已于 over 1 year前审核

Arya G. · 已于 over 1 year前审核

Utsav B. · 已于 over 1 year前审核

Sonalika s. · 已于 over 1 year前审核

Uvais S. · 已于 over 1 year前审核

Jagannadh V. · 已于 over 1 year前审核

Priyanshu P. · 已于 over 1 year前审核

Suresh R. · 已于 over 1 year前审核

Hendy A. · 已于 over 1 year前审核

Amaritanshi G. · 已于 over 1 year前审核

OM M. · 已于 over 1 year前审核

Shashwat K. · 已于 over 1 year前审核

nice

Himanshu Y. · 已于 over 1 year前审核