关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Krish T. · 已于 over 1 year前审核

Sayandeep P. · 已于 over 1 year前审核

Mahammad A. · 已于 over 1 year前审核

hawis s. · 已于 over 1 year前审核

Tanmay N. · 已于 over 1 year前审核

Gourav S. · 已于 over 1 year前审核

SAKSHAM RAKESH K. · 已于 over 1 year前审核

Keshav G. · 已于 over 1 year前审核

Mafyul I. · 已于 over 1 year前审核

Rajat B. · 已于 over 1 year前审核

Chandan H. · 已于 over 1 year前审核

Good

Mohammed Afrah U. · 已于 over 1 year前审核

Priyatam S. · 已于 over 1 year前审核

Aryan R. · 已于 over 1 year前审核

Manohar K. · 已于 over 1 year前审核

Devender S. · 已于 over 1 year前审核

Pratik P. · 已于 over 1 year前审核

Sanidhya G. · 已于 over 1 year前审核

Yogesh K. · 已于 over 1 year前审核

Nitesh N. · 已于 over 1 year前审核

Shubham B. · 已于 over 1 year前审核

Allamsetti H. · 已于 over 1 year前审核

satyamuralidhar p. · 已于 over 1 year前审核

sunirmal S. · 已于 over 1 year前审核

Shivam P. · 已于 over 1 year前审核