关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Kuldeep k. · 已于 over 1 year前审核

Gautam S. · 已于 over 1 year前审核

Abhigya S. · 已于 over 1 year前审核

Priyanshi N. · 已于 over 1 year前审核

Jeenath s. · 已于 over 1 year前审核

Muhamad I. · 已于 over 1 year前审核

Sarthak R. · 已于 over 1 year前审核

nice

Rizky Yusfian A. · 已于 over 1 year前审核

Saurabh K. · 已于 over 1 year前审核

Samruddhi D. · 已于 over 1 year前审核

Mausam k. · 已于 over 1 year前审核

POOJA K. · 已于 over 1 year前审核

Anjali K. · 已于 over 1 year前审核

Sujal G. · 已于 over 1 year前审核

Rohit K. · 已于 over 1 year前审核

Shristi P. · 已于 over 1 year前审核

ANUJ S. · 已于 over 1 year前审核

Preeti V. · 已于 over 1 year前审核

Shifana M. · 已于 over 1 year前审核

Arpit K. · 已于 over 1 year前审核

Shio M. · 已于 over 1 year前审核

Ronit B. · 已于 over 1 year前审核

Tejal M. · 已于 over 1 year前审核

Arpan G. · 已于 over 1 year前审核

Kalpesh S. · 已于 over 1 year前审核