关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Shreya K. · 已于 over 1 year前审核

bubg p. · 已于 over 1 year前审核

Utkarsh M. · 已于 over 1 year前审核

Kirandeep K. · 已于 over 1 year前审核

Adi B. · 已于 over 1 year前审核

Pranav Z. · 已于 over 1 year前审核

good

Anil K. · 已于 over 1 year前审核

Durga Prasad E. · 已于 over 1 year前审核

Ashutosh P. · 已于 over 1 year前审核

Amanpreet kaur B. · 已于 over 1 year前审核

MD KAIF A. · 已于 over 1 year前审核

K K. · 已于 over 1 year前审核

tushar c. · 已于 over 1 year前审核

Soham R. · 已于 over 1 year前审核

Udita R. · 已于 over 1 year前审核

Jay S. · 已于 over 1 year前审核

APEKSHA U. · 已于 over 1 year前审核

Ashutosh G. · 已于 over 1 year前审核

Ashutosh G. · 已于 over 1 year前审核

Pasam T. · 已于 over 1 year前审核

Ashutosh K. · 已于 over 1 year前审核

great

Sumanth J. · 已于 over 1 year前审核

Achint T. · 已于 over 1 year前审核

Twinkle S. · 已于 over 1 year前审核

Nageshwar Prashad P. · 已于 over 1 year前审核