关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Naresh K. · 已于 over 1 year前审核

Yakshay K. · 已于 over 1 year前审核

Soham P. · 已于 over 1 year前审核

Kausalya S. · 已于 over 1 year前审核

gourab S. · 已于 over 1 year前审核

Mohini S. · 已于 over 1 year前审核

Adam Sameer Ahamed S. · 已于 over 1 year前审核

Priya 0. · 已于 over 1 year前审核

Aditya C. · 已于 over 1 year前审核

Rashmi W. · 已于 over 1 year前审核

good

Rashmi Y. · 已于 over 1 year前审核

Laxmi Satish D. · 已于 over 1 year前审核

Adarsh S. · 已于 over 1 year前审核

Sunkara L. · 已于 over 1 year前审核

Sarvesh U. · 已于 over 1 year前审核

MANOJ KUMAR M. · 已于 over 1 year前审核

CHARAN T. · 已于 over 1 year前审核

Pratham P. · 已于 over 1 year前审核

Rahul B. · 已于 over 1 year前审核

Great

KUNAL K. · 已于 over 1 year前审核

Manish K. · 已于 over 1 year前审核

Subham kr M. · 已于 over 1 year前审核

Muskan B. · 已于 over 1 year前审核

Aayush G. · 已于 over 1 year前审核

Rohan D. · 已于 over 1 year前审核