关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Rohan T. · 已于 over 1 year前审核

Good Lab

Abhinav C. · 已于 over 1 year前审核

Md M. · 已于 over 1 year前审核

Ketan J. · 已于 over 1 year前审核

Piyush S. · 已于 over 1 year前审核

Ravi S. · 已于 over 1 year前审核

Ravi S. · 已于 over 1 year前审核

good

Chiranjeevi T. · 已于 over 1 year前审核

Pooja M. · 已于 over 1 year前审核

Raj K. · 已于 over 1 year前审核

Ayush G. · 已于 over 1 year前审核

Snehäsīsh P. · 已于 over 1 year前审核

Abdul Rehaman S. · 已于 over 1 year前审核

good

Shruti K. · 已于 over 1 year前审核

Good

S G S. · 已于 over 1 year前审核

Anusha B. · 已于 over 1 year前审核

Soumen M. · 已于 over 1 year前审核

very much issue

Priya P. · 已于 over 1 year前审核

Prashant K. · 已于 over 1 year前审核

Snehäsīsh P. · 已于 over 1 year前审核

Priya P. · 已于 over 1 year前审核

Rahul Kumar B. · 已于 over 1 year前审核

Shrestha S. · 已于 over 1 year前审核

Purva P. · 已于 over 1 year前审核

li c. · 已于 over 1 year前审核