关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

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Shawn A. · 已于 over 1 year前审核

Ravi Raj S. · 已于 over 1 year前审核

GOOD LABS

AKSHAY N. · 已于 over 1 year前审核

Aastha G. · 已于 over 1 year前审核

Arcade U. · 已于 over 1 year前审核

Ayushman M. · 已于 over 1 year前审核

Chaun G. · 已于 over 1 year前审核

ATISHAY J. · 已于 over 1 year前审核

RAJA A. · 已于 over 1 year前审核

Biswabedant S. · 已于 over 1 year前审核

Good

ANUBHAV D. · 已于 over 1 year前审核

Krishna M. · 已于 over 1 year前审核

Sujal G. · 已于 over 1 year前审核

prathamesh p. · 已于 over 1 year前审核

aisha p. · 已于 over 1 year前审核

Harsh T. · 已于 over 1 year前审核

Double B. · 已于 over 1 year前审核

MOHD ARSHAAN . · 已于 over 1 year前审核

Jatin V. · 已于 over 1 year前审核

Prity S. · 已于 over 1 year前审核

Saumik C. · 已于 over 1 year前审核

Prerana P. · 已于 over 1 year前审核

ANJALI V. · 已于 over 1 year前审核

KHUSHI K. · 已于 over 1 year前审核

ADITYA K. · 已于 over 1 year前审核