关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Devansh S. · 已于 over 1 year前审核

perfect

Gauri Y. · 已于 over 1 year前审核

Saptarshi B. · 已于 over 1 year前审核

Anchal M. · 已于 over 1 year前审核

Zari B. · 已于 over 1 year前审核

Ahmad A. · 已于 over 1 year前审核

good lab

Golla P. · 已于 over 1 year前审核

Mayukh R. · 已于 over 1 year前审核

Riya H. · 已于 over 1 year前审核

Surya P. · 已于 over 1 year前审核

good

Bhakti M. · 已于 over 1 year前审核

Mit P. · 已于 over 1 year前审核

Sachin S. · 已于 over 1 year前审核

Galih G. · 已于 over 1 year前审核

Keripik T. · 已于 over 1 year前审核

Okta Bagus W. · 已于 over 1 year前审核

rakhi s. · 已于 over 1 year前审核

Ashutosh A. · 已于 over 1 year前审核

Shashwat J. · 已于 over 1 year前审核

Ammar I. · 已于 over 1 year前审核

Pro O. · 已于 over 1 year前审核

Rohan I. · 已于 over 1 year前审核

Durgesh K. · 已于 over 1 year前审核

Kunal C. · 已于 over 1 year前审核

aviraj s. · 已于 over 1 year前审核