关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Hridaya G. · 已于 over 1 year前审核

piyush k. · 已于 over 1 year前审核

good lab

dion a. · 已于 over 1 year前审核

Akmal k. · 已于 over 1 year前审核

Shivanshu S. · 已于 over 1 year前审核

Nice

Darsh P. · 已于 over 1 year前审核

Priya C. · 已于 over 1 year前审核

shy A. · 已于 over 1 year前审核

nice

Preeti Prangya P. · 已于 over 1 year前审核

vikas a. · 已于 over 1 year前审核

sudhir m. · 已于 over 1 year前审核

Smrutirupa S. · 已于 over 1 year前审核

Aris W. · 已于 over 1 year前审核

Cahyo W. · 已于 over 1 year前审核

Myakala S. · 已于 over 1 year前审核

saransh c. · 已于 over 1 year前审核

Ajay Kumar M. · 已于 over 1 year前审核

Viswanadh .. · 已于 over 1 year前审核

mahak s. · 已于 over 1 year前审核

Sachin S. · 已于 over 1 year前审核

SRIRAM K. · 已于 over 1 year前审核

Nice

Jagdish P. · 已于 over 1 year前审核

hightech h. · 已于 over 1 year前审核

Ranjan K. · 已于 over 1 year前审核

Syed Akkeal Juniath S. · 已于 over 1 year前审核