关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Pragati D. · 已于 over 1 year前审核

Ankita L. · 已于 over 1 year前审核

Adil k. · 已于 over 1 year前审核

Cool

Sanket G. · 已于 over 1 year前审核

Nur R. · 已于 over 1 year前审核

Ajay B. · 已于 over 1 year前审核

Prathamesh F. · 已于 over 1 year前审核

RF Technologies G. · 已于 over 1 year前审核

good lab

A-Nikhil K. · 已于 over 1 year前审核

Yash K. · 已于 over 1 year前审核

Lokesh B. · 已于 over 1 year前审核

Bhavyata T. · 已于 over 1 year前审核

nice

Divyansh p. · 已于 over 1 year前审核

Nice

Ankit B. · 已于 over 1 year前审核

Tagore A. · 已于 over 1 year前审核

good lab

Aadarsh s. · 已于 over 1 year前审核

Chandan S. · 已于 over 1 year前审核

Nikita J. · 已于 over 1 year前审核

Vivek D. · 已于 over 1 year前审核

Vaibhav J. · 已于 over 1 year前审核

Azlan K. · 已于 over 1 year前审核

Sachin V. · 已于 over 1 year前审核

Tech M. · 已于 over 1 year前审核

Priyanshu G. · 已于 over 1 year前审核

Arya R. · 已于 over 1 year前审核