关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Lakshin P. · 已于 over 1 year前审核

Muhammad B. · 已于 over 1 year前审核

good

Umesh G. · 已于 over 1 year前审核

Anand S. · 已于 over 1 year前审核

Urindu Y. · 已于 over 1 year前审核

Prafull S. · 已于 over 1 year前审核

SHALINEE S. · 已于 over 1 year前审核

Ayush A. · 已于 over 1 year前审核

Shanmukha Thrisha k. · 已于 over 1 year前审核

Vaishnavi V. · 已于 over 1 year前审核

Sumit S. · 已于 over 1 year前审核

Diya P. · 已于 over 1 year前审核

Krishna S. · 已于 over 1 year前审核

HRITIK P. · 已于 over 1 year前审核

Nice

Jagdish S. · 已于 over 1 year前审核

Prabesh A. · 已于 over 1 year前审核

GOVARDHAN N. · 已于 over 1 year前审核

Guinni B. · 已于 over 1 year前审核

Niranjan P. · 已于 over 1 year前审核

Niranjan P. · 已于 over 1 year前审核

ok

Praveen S. · 已于 over 1 year前审核

HARSH S. · 已于 over 1 year前审核

Dhanush M. · 已于 over 1 year前审核

Pramod D. · 已于 over 1 year前审核

AMALA J. · 已于 over 1 year前审核