关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Muhammad A. · 已于 over 1 year前审核

Sandeep R. · 已于 over 1 year前审核

Ayushi M. · 已于 over 1 year前审核

Chishtiya S. · 已于 over 1 year前审核

Dhruv P. · 已于 over 1 year前审核

cool

Bishal B. · 已于 over 1 year前审核

Monika P. · 已于 over 1 year前审核

Mohammed M. · 已于 over 1 year前审核

Abhinab P. · 已于 over 1 year前审核

Chaturthi G. · 已于 over 1 year前审核

Prakash R. · 已于 over 1 year前审核

good lab

Krishna B. · 已于 over 1 year前审核

rajni s. · 已于 over 1 year前审核

Siddhi S. · 已于 over 1 year前审核

Rohit K. · 已于 over 1 year前审核

Sai Sunitha G. · 已于 over 1 year前审核

Aryan S. · 已于 over 1 year前审核

Hema V. · 已于 over 1 year前审核

Rutuja P. · 已于 over 1 year前审核

Adeep D. · 已于 over 1 year前审核

Mohamed Ali B. · 已于 over 1 year前审核

Aditya A. · 已于 over 1 year前审核

OMKARA ANJANEYA KUMAR R. · 已于 over 1 year前审核

Hmm m. · 已于 over 1 year前审核

Eri T. · 已于 over 1 year前审核