关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Juluri s. · 已于 over 1 year前审核

Sakshi V. · 已于 over 1 year前审核

Harsh V. · 已于 over 1 year前审核

Darshan M. · 已于 over 1 year前审核

Moses H. · 已于 over 1 year前审核

prince r. · 已于 over 1 year前审核

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Animesh J. · 已于 over 1 year前审核

Shital P. · 已于 over 1 year前审核

Pentakota A. · 已于 over 1 year前审核

Abhishek S. · 已于 over 1 year前审核

Tabish G. · 已于 over 1 year前审核

KAMAL LOCHAN S. · 已于 over 1 year前审核

Tabish G. · 已于 over 1 year前审核

khadijah Y. · 已于 over 1 year前审核

Suraj M. · 已于 over 1 year前审核

domenika p. · 已于 over 1 year前审核

Muhammad A. · 已于 over 1 year前审核

Shaik R. · 已于 over 1 year前审核

ROHIT S. · 已于 over 1 year前审核

Bharat H. · 已于 over 1 year前审核

Suraj Y. · 已于 over 1 year前审核

Muhammad A. · 已于 over 1 year前审核

good lab

Daram L. · 已于 over 1 year前审核

phani v. · 已于 over 1 year前审核

yadlapalli k. · 已于 over 1 year前审核