关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

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Sangram D. · 已于 over 1 year前审核

Chandra Mouli D. · 已于 over 1 year前审核

Abhinav S. · 已于 over 1 year前审核

Ashwini S. · 已于 over 1 year前审核

K Sruti R. · 已于 over 1 year前审核

jay g. · 已于 over 1 year前审核

Ayush S. · 已于 over 1 year前审核

Bhuvan Krishna v. · 已于 over 1 year前审核

good good

Shubham G. · 已于 over 1 year前审核

Good lab

kranthi a. · 已于 over 1 year前审核

Pranali D. · 已于 over 1 year前审核

Signum Juniors G. · 已于 over 1 year前审核

Aida N. · 已于 over 1 year前审核

Kartik J. · 已于 over 1 year前审核

Md Symun N. · 已于 over 1 year前审核

Vaibhavi P. · 已于 over 1 year前审核

Ladani N. · 已于 over 1 year前审核

Nasreen P. · 已于 over 1 year前审核

Harshini Y. · 已于 over 1 year前审核

DAVATH P. · 已于 over 1 year前审核

Shalini K. · 已于 over 1 year前审核

Mehul J. · 已于 over 1 year前审核

LAKSHMAN K. · 已于 over 1 year前审核

Gauri T. · 已于 over 1 year前审核

Ajay J. · 已于 over 1 year前审核