关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Malvika V. · 已于 over 1 year前审核

Nikita W. · 已于 over 1 year前审核

Omkar H. · 已于 over 1 year前审核

Nawadha J. · 已于 over 1 year前审核

Emu A. · 已于 over 1 year前审核

Roy L. · 已于 over 1 year前审核

Vikram K. · 已于 over 1 year前审核

Good

Shiv narayan K. · 已于 over 1 year前审核

AYATULLAH D. · 已于 over 1 year前审核

Rohit M. · 已于 over 1 year前审核

AYATULLAH D. · 已于 over 1 year前审核

Vishal P. · 已于 over 1 year前审核

SATYA V. · 已于 over 1 year前审核

Paras G. · 已于 over 1 year前审核

Manfred J. · 已于 over 1 year前审核

Karan M. · 已于 over 1 year前审核

Onkar F. · 已于 over 1 year前审核

Arcade F. · 已于 over 1 year前审核

Mangesh C. · 已于 over 1 year前审核

Souradeep M. · 已于 over 1 year前审核

Jagruti D. · 已于 over 1 year前审核

vishal kumar Y. · 已于 over 1 year前审核

Sanika J. · 已于 over 1 year前审核

ashwita r. · 已于 over 1 year前审核

Aswini R. · 已于 over 1 year前审核