关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Galih Y. · 已于 over 1 year前审核

Baishali D. · 已于 over 1 year前审核

kunal G. · 已于 over 1 year前审核

Harsh J. · 已于 over 1 year前审核

HARSH J. · 已于 over 1 year前审核

Ashish K. · 已于 over 1 year前审核

Akanksha S. · 已于 over 1 year前审核

great

Titash S. · 已于 over 1 year前审核

SUBHADEEP M. · 已于 over 1 year前审核

Avesh S. · 已于 over 1 year前审核

Archit P. · 已于 over 1 year前审核

NIRAJ KUMAR S. · 已于 over 1 year前审核

Madhusmita P. · 已于 over 1 year前审核

MEHAK R. · 已于 over 1 year前审核

Omprakash D. · 已于 over 1 year前审核

Mahrita D. · 已于 over 1 year前审核

Rishika S. · 已于 over 1 year前审核

Shriram J. · 已于 over 1 year前审核

Jahid K. · 已于 over 1 year前审核

Shivam K. · 已于 over 1 year前审核

Saurabh K. · 已于 over 1 year前审核

Kunj J. · 已于 over 1 year前审核

Pratham D. · 已于 over 1 year前审核

Daksha K. · 已于 over 1 year前审核

Kamalini M. · 已于 over 1 year前审核