关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Partha Pratim K. · 已于 over 1 year前审核

Vikas S. · 已于 over 1 year前审核

good

Pratik M. · 已于 over 1 year前审核

Krish J. · 已于 over 1 year前审核

Shefin M. · 已于 over 1 year前审核

Jyotsna k. · 已于 over 1 year前审核

Great

Krushna M. · 已于 over 1 year前审核

Lewis C. · 已于 over 1 year前审核

Ayush D. · 已于 over 1 year前审核

Animesh M. · 已于 over 1 year前审核

Abir D. · 已于 over 1 year前审核

Prajapati P. · 已于 over 1 year前审核

Seakingretsu G. · 已于 over 1 year前审核

Sojitra V. · 已于 over 1 year前审核

GAYATRI W. · 已于 over 1 year前审核

Md Shad I. · 已于 over 1 year前审核

Purva P. · 已于 over 1 year前审核

Sinchan M. · 已于 over 1 year前审核

osm

Nikhil K. · 已于 over 1 year前审核

Ruturaj S. · 已于 over 1 year前审核

Akshay p. · 已于 over 1 year前审核

KARAN P. · 已于 over 1 year前审核

Anirudh B. · 已于 over 1 year前审核

uday kiran v. · 已于 over 1 year前审核

Adrija S. · 已于 over 1 year前审核