关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Vaibhav S. · 已于 over 1 year前审核

Swathi K. · 已于 over 1 year前审核

Nova Yuda E. · 已于 over 1 year前审核

Fahad A. · 已于 over 1 year前审核

Madhav K. · 已于 over 1 year前审核

Sravya J. · 已于 over 1 year前审核

vanshika s. · 已于 over 1 year前审核

Varnit S. · 已于 over 1 year前审核

Fiza A. · 已于 over 1 year前审核

Seakingretsu G. · 已于 over 1 year前审核

Arsh G. · 已于 over 1 year前审核

good lab

RavindranathTagoor P. · 已于 over 1 year前审核

M Guru K. · 已于 over 1 year前审核

Prithwiraj M. · 已于 over 1 year前审核

Nazarullah M. · 已于 over 1 year前审核

Tanmay J. · 已于 over 1 year前审核

pardeep s. · 已于 over 1 year前审核

Aarya S. · 已于 over 1 year前审核

Ahasan H. · 已于 over 1 year前审核

Hem raj s. · 已于 over 1 year前审核

nice

Adarsh J. · 已于 over 1 year前审核

Sneha R. · 已于 over 1 year前审核

Blue S. · 已于 over 1 year前审核

samruddhi j. · 已于 over 1 year前审核

Pournima C. · 已于 over 1 year前审核