关于“[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Darshana M. · 已于 over 1 year前审核

ok

Anushka D. · 已于 over 1 year前审核

Neeraj C. · 已于 over 1 year前审核

Meghna S. · 已于 over 1 year前审核

SHADAB S. · 已于 over 1 year前审核

Prerna A. · 已于 over 1 year前审核

Jimmy L. · 已于 over 1 year前审核

Ranjan K. · 已于 over 1 year前审核

Dipali M. · 已于 over 1 year前审核

Dhyan K. · 已于 over 1 year前审核

good lab

Gopal Chandra D. · 已于 over 1 year前审核

RAVI S. · 已于 over 1 year前审核

AMARESWAR CHOWDARY N. · 已于 over 1 year前审核

Mohamed Nowfal A. · 已于 over 1 year前审核

srikanth a. · 已于 over 1 year前审核

Good lab

Swasti M. · 已于 over 1 year前审核

Abisheik s. · 已于 over 1 year前审核

Suhani T. · 已于 over 1 year前审核

Adithya K. · 已于 over 1 year前审核

Nikita G. · 已于 over 1 year前审核

yashjain G. · 已于 over 1 year前审核

Swapnil S. · 已于 over 1 year前审核

chandershker s. · 已于 over 1 year前审核

Swaraj M. · 已于 over 1 year前审核

Vanshika S. · 已于 over 1 year前审核